Marco Van Uffelen - Supervised Work -

Research activity per year

Research output

6 results

2009

Karakterisatie van drie stralingsharde 0.35μm SiGe BiCMOS transimpedantie-versterkers
Van Hees, B. & De Cock, W. (Peer reviewer), Jun 2009, Geel, Belgium: Thomas More. 82 p.
Research output

Open Access
File

77 Downloads (Pure)
2008

Karakterisering van drie stralingsharde 0,7µm CMOS opamps voor gebruik in een voorversterker voor druksensoren
Ooms, B. & De Cock, W. (Peer reviewer), Jun 2008, Geel, Belgium: Thomas More. 81 p.
Research output

Open Access
File

57 Downloads (Pure)
2007

Karakterisering en modellering van 0.35µm SiGe bipolaire transistoren onder gammastraling
Vansant, N. & Goussarov, A. (Peer reviewer), Jun 2007, Geel, Belgium: Thomas More. 85 p.
Research output

Open Access
File

73 Downloads (Pure)
2006

Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling
Lowet, D. & Berghmans, F. (Peer reviewer), Jun 2006, Geel, Belgium: Thomas More. 66 p.
Research output

Open Access
File

84 Downloads (Pure)
Karakterisering van een digitale CMOS VCSEL driver onder gammastraling
Lens, S. & Berghmans, F. (Peer reviewer), Jun 2006, Geel, Belgium: Thomas More. 87 p.
Research output

Open Access
File

92 Downloads (Pure)
2005

Karakterisatie en simulatie van een bipolaire SiGe transistor onder gammastraling
Geboers, S., Van Uffelen, M. (Peer reviewer) & Berghmans, F. (Peer reviewer), May 2005, Geel: Thomas More. 60 p.
Research output

Open Access
File

46 Downloads (Pure)