Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling

Davy Lowet, Francis Berghmans

    Research output

    71 Downloads (Pure)

    Abstract

    In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.
    Original languageEnglish
    Awarding Institution
    • Katholieke Hogeschool Kempen
    Supervisors/Advisors
    • Van Uffelen, Marco, Supervisor
    • Leroux, Paul, Supervisor
    Place of PublicationGeel, Belgium
    Publisher
    StatePublished - Jun 2006

    Cite this