Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling

Davy Lowet; Francis Berghmans

Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling

Research output

93 Downloads (Pure)

Abstract

In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.

Original language	English
Awarding Institution	Katholieke Hogeschool Kempen
Supervisors/Advisors	Van Uffelen, Marco, Supervisor Leroux, Paul, Supervisor
Place of Publication	Geel, Belgium
Publisher	Thomas More
State	Published - Jun 2006

Access to Document

Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastralingFinal published version, 3.42 MBLicense: Unspecified

Cite this

@mastersthesis{c5ac2a599ec44a65b094a95a8b8a8ca6,

title = "Karakterisering en modellering van ge{\"i}ntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling",

abstract = "In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.",

keywords = "stralingsbestendigheid, gammastraling, temperatuurstest, halfgeleider",

author = "Davy Lowet and Francis Berghmans",

note = "Score = 2",

year = "2006",

month = jun,

language = "English",

publisher = "Thomas More",

school = "Katholieke Hogeschool Kempen",

}

TY - THES

T1 - Karakterisering en modellering van geïntegreerde halfgeleider structuren onder gammastraling

AU - Lowet, Davy

A2 - Berghmans, Francis

N1 - Score = 2

PY - 2006/6

Y1 - 2006/6

N2 - In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.

AB - In dit eindwerk, in samenwerking met het Studiecentrum voo Kernenergie (SCK-CEN) in Mol, bestuderen we de stalingsbestendigheid van enkele teststructuren die vervaardigd zijn in een CMOS 0.7µm technologie. We hebben daartoe een geschikte testopstelling voor DC-metingen ontworpen. Omdat we meerdere IC-teststructuren wensten te testen voor een langere periode, waarbij de meetopstelling in een gecontroleerde zone staat, dienden we deze meetopstelling te automatiseren. Dit werd gerealiseerd met behulp van LabVIEW.

KW - stralingsbestendigheid

KW - gammastraling

KW - temperatuurstest

KW - halfgeleider

UR - http://ecm.sckcen.be/OTCS/llisapi.dll/open/ezp_31765

UR - http://knowledgecentre.sckcen.be/so2/bibref/3572

M3 - Master's thesis

PB - Thomas More

CY - Geel, Belgium

ER -