Abstract
Het doel is een detector te ontwikkelen die in staat is om straling te meten. Deze meting moet rechtstreeks uitgelezen worden door een computersysteem. De detectie zelf gebeurt met fotodiodes. Het invallen van straling zorgt voor de vorming van elektron - gat paren in het slilicium. Dit resulteert in kleine landingspulsen. Deze pulsen worden versterkt door een ladingsgevoelige versterker. Aanvankelijk was het grootste probleem, het vinden van de pulsen. Er zijn enkele proefopstellingen gemaakt vooraleer de juiste methode gevonden is.
De volgende stap is het verwerken van deze informatie. Het analoge signaal wordt omgevormd tot een digitale pulstrein. Dit wordt gedaan door een comparator. Deze comporator heeft een instelbaar omschakelniveau. Met dit niveau kan de ruis weggefilterd worden. Dit instelniveau heeft een belangrijk bijkomend effect bij het kalibreren van het systeem. Om de communicatie via een computer mogelijk te maken moet er een data acquisitie systeem samengesteld worden. Er is gekozen om ADAM systemen te gebruiken omdat men op het SCK-CEN veel gebruik maakt van deze modules. De communicatie met de modules gebeurt langs een seriële poort van de computer. Door simpele commando's te versturen kan men de ADAM modules besturen. In LabVIEW werd een programma geschreven voor de gebruiker. Dit programma is zeer eenvoudig gehouden.
Als het systeem af was, werd het getest in het kalibratiegebouw. De detector werd voor verschillende bronnen gemonteerden getest op zijn lineariteit en werkingsgebied. Deze testen namen veel tijd in beslag omdat er gezocht moest worden naar de optimale werkingscondities. Het instelbare comparatorniveau is een belangrijke factor bij de metingen. Als deze te laag of te hoog wordt ingesteld, zullen de meetresultaten slechter zijn. Daarom werd er een studie gemaakt over de optimale instelling.
Het resultaat is dat de detector gebruikt kan worden voor het meten van straling. Maar er moet rekening gehouden worden met de instellingen van de comparator.
Original language | English |
---|---|
Awarding Institution |
|
Supervisors/Advisors |
|
Place of Publication | Geel |
Publisher | |
State | Published - Jun 2005 |